购买 测量仪器 二手 (2,011)

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测量系统 Carbidoor HSAFS
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测量系统 SaluTron D2
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测量系统 Kelch SECA 04E
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测量板 WILSON INSTRUMENTS Granitplatte  630x400x100mm
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德国 Ennepetal
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测量板
WILSON INSTRUMENTSGranitplatte 630x400x100mm

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坐标测量机 (CMM) EROWA CMM Qi
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测量系统 KEYENCE IM 6020
测量系统 KEYENCE IM 6020
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测量系统
KEYENCEIM 6020

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测量系统 Hommel-Etamic opticline
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测量系统
Hommel-Etamicopticline

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三坐标测量机 Keyence XM-1200 defekt gegen Gebot / against bid
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德国 Langenfeld (Rheinland)
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三坐标测量机
Keyence XM-1200 defektgegen Gebot / against bid

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三坐标测量机 Keyence WM-C3000 gegen Gebot / against bid
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KeyenceWM-C3000 gegen Gebot / against bid

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测量系统 Keyence IM-8030 gegen Gebot / against bid
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KeyenceIM-8030 gegen Gebot / against bid

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三坐标CNC测量机 HEXAGON Hexagon Metrology Global Advantage F
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移动式粗糙度测量装置 Mahr Marsurf PS10
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测量系统 ConturoMatic CV 120 System NEU (Aktionspreis)
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带磁性底座的高度测量表 MITUTOYO Altimeter Gauge + Magnetic Plate
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带磁性底座的高度测量表
MITUTOYOAltimeter Gauge + Magnetic Plate

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一批磁性平台,包括测量表 Magnetic plates including dial gauges
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一批磁性平台,包括测量表
Magnetic plates including dial gauges

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测量系统 shining 3d Freescan Trak Nova
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垂直数字化和坐标测量机 Nikon - Metris MMC LKV 25.10.8 - X: 2500- Y: 1000 - Z: 800 mm
垂直数字化和坐标测量机 Nikon - Metris MMC LKV 25.10.8 - X: 2500- Y: 1000 - Z: 800 mm
垂直数字化和坐标测量机 Nikon - Metris MMC LKV 25.10.8 - X: 2500- Y: 1000 - Z: 800 mm
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Deinze
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垂直数字化和坐标测量机
Nikon - MetrisMMC LKV 25.10.8 - X: 2500- Y: 1000 - Z: 800 mm

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垂直数字化和坐标测量机 Nikon - Metris LKV 15.10 .8 SL - X: 1500 Y: 1000 Z: 800 mm
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Deinze
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垂直数字化和坐标测量机
Nikon - MetrisLKV 15.10 .8 SL - X: 1500 Y: 1000 Z: 800 mm

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三坐标测量机 MITUTOYO CRYSTA-PLUS M 574
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三坐标测量机 KEYENCE XM - T 1000
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三坐标测量机 MORA Metrology GmbH 0204.20.35.60
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测量系统 Proces Data PD340
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测量系统 Keyence IM-8030T
测量系统 Keyence IM-8030T
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长度测量装置 TESA SCAN 52
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3D测量显微镜 KEYENCE XM-1500
3D测量显微镜 KEYENCE XM-1500
3D测量显微镜 KEYENCE XM-1500
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德国 Baden-Württemberg
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