粗糙度测量仪 测量探头Hommel
P 2FE 30 P2F E 100
粗糙度测量仪 测量探头
Hommel
P 2FE 30 P2F E 100
固定价格 不包含增值稅
€125
狀況
二手
位置
Wiefelstede 

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机器数据
价格和位置
固定价格 不包含增值稅
€125
- 位置:
- 26215 Wiefelstede, DE
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优惠详情
- 產品ID:
- A9211358
- 參考編號:
- 30459
- 最後更新:
- 於 23.07.2025
描述
Contour measuring device, contour measuring device, contourograph, contourograph, roughness measuring device, roughness measurement, roundness measurement
-Manufacturer: Hommel, probe for roughness measuring device
-Probe: Type P2FE 30 / P2F E 100
-Individual components: see photos
-Dimensions box: 235/105/H30 mm
-Weight.: 0.4 kg
Ksdpek Hdr Tsfx Af Asdu
-Manufacturer: Hommel, probe for roughness measuring device
-Probe: Type P2FE 30 / P2F E 100
-Individual components: see photos
-Dimensions box: 235/105/H30 mm
-Weight.: 0.4 kg
Ksdpek Hdr Tsfx Af Asdu
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